压敏电阻也有其局限，若是过电压在电路系统中频繁显现,则压敏电阻器就会频繁行径以抑制过电压幅值和吸收释放电涌能量,这势必会招致压敏电阻器的机能劣化。

  按照压敏电阻器失效后的表现情况来看，可以分成几种常见的失效状态：劣化：实物表现为使用万用表测试压敏电阻时出现漏电流增大情况，压敏电压显着下降，直至为零。

  炸裂：压敏电阻器在抑制过电压时将会发生陶瓷炸裂现象，非常明显。

  穿孔：电阻器的陶瓷外层将会瞬间发生电击穿，出现穿孔状态。

  在压敏电阻的应用过程中，当其出现性能劣化时，常见的劣化模式有两种：

  第一种是开路模式：开路模式主要发生在MOV流过远远超出自身承受的浪涌电流时，通常表现为压敏电阻本体炸裂，但这种模式不会引起燃烧现象。

  第二种是短路模式：短路模式大体上可分为老化失效和暂态过电压破坏两种类型。

  老化失效：电阻体的低阻线性逐步加剧，此时漏电流将会恶性增加且集中注入薄弱点，导致薄弱点材料融化，形成一千欧左右的短路孔后。

  电源继续推动一个较大的电流灌入短路点，形成高热而起火，若压敏电阻存在着制造缺陷，易发生早期失效，强度不大的电冲击的多次作用也会加速老化过程，使老化失效提早出现。