压敏电阻的失效及劣化
压敏电阻过电压在电路系统中频繁显现,则压敏电阻就会频繁行径以抑制过电压幅值和吸收释放电涌能量,这势必会招致压敏电阻器的机能劣化。
按照压敏电阻器失效后的表现情况来看,可以分成三种常见的失效状态:炸裂压敏电阻器在抑制过电压时将会发生陶瓷炸裂现象,非常明显。
穿孔电阻器的陶瓷外层将会瞬间发生电击穿,出现穿孔状态。
劣化实物表现为使用万用表测试压敏电阻时出现漏电流增大情况,压敏电压显着下降,直至为零。
在压敏电阻器的应用过程中,当其出现性能劣化时,常见的劣化模式有两种:
开路模式:开路模式主要发生在MOV流过远远超出自身承受的浪涌电流时,通常表现为氧化锌压敏电阻本体炸裂,但这种模式不会引起燃烧现象。
短路模式:短路模式大体上可分为老化失效和暂态过电压破坏两种类型。
压敏电阻存在着制造缺陷,易发生早期失效,强度不大的电冲击的多次作用也会加速老化过程,使老化失效提早出现。
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