金属膜电容如何注意防损耗
金属膜电容器的早期损坏多由于制造原因。由于原材料及制造工艺等原因,介质中可能存在杂质,机械损伤、针孔、清洁度低等问题,在系统中受各种原因引起的过电压,过电流及周围高、低温度的作用,这些金属膜电容薄弱点便引起介质击穿。击穿时通常会产生火花,进一步的扩大范围,从而形成多层短路甚至整个元件短路。与击穿元件串联的元件上的电压将会随之升高,从而使剩余的组上的电压随之升高,通过每个元件的电流也随之增大。将导致各个元件的迅速老化,增加发热量。同时在较高电压作用下也将产生极板边缘的局部放电。经过一定时间后,与故障元件串联的整个组的金属膜电容会相继击穿,又会有新的组被连接。组数进一步减少,元件电压进一步提高,过电流现象更为严重,介质进一步恶化,温度进一步升高,电弧会进而增大,如此下去,元件损坏越来越多,箱壳膨胀越来越严重。
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