压敏电阻的缺点是易老化，大多数情况下P-N结过载时会造成短路且不可回转至正常状态。

  在电冲击的反复多次作用下压敏电阻内的二极管元件被击穿，电阻体的低阻线性化逐步加剧，压敏电压越来越低，漏电流越来越大。

 
  随着MOV本体温度的升高，漏电流更大，形成恶性循环，以至MOV的温度升高达到外包封材料的燃点。

  这种情况称之为高阻抗短路(1kΩ左右)，焦耳热使得MOV发热增加且集中流入薄弱点，薄弱点材料融化。

  形成1kΩ左右的短路孔后，电源继续推动一个较大的电流灌入短路点，形成高热而起火。

  研究结果表明，若压敏电阻存在着制造缺陷，易发生早期失效，强度不大的电冲击的反复多次作用，也会加速老化过程，使老化失效提早出现。

  压敏电阻经大脉冲电流冲击后，其U/I特性会产生蜕变，蜕变的结果会使漏电流增大，压敏电压下降。

  把满足下降要求的压敏电阻器所承受的最大冲击电流，称为压敏电阻的通流容量，也称为通流能力或通流量。

  它是表征压敏电阻器耐受高浪涌电流冲击的能力的一个参量，此参数与脉冲幅度，脉冲持续时间及所承受的脉冲次数有关。