对高频低阻电解电容使用可靠性检测
对解读高频低阻电解电容使用可靠性检测的分析有以下独特见解。 铝电解电容器是电子元器件中重要的元器件之一， 是电子工程技术与许多先进设备中不可缺少或不可取代的电子元器件，因此，电解电容器在使用之前都会进行使用可靠性的检测，以确保电解电容器在使用过程中使用寿命更长，与其它电子元器件一起使用时更可靠、更安定。
铝电解电容器使用可靠性检测一般也叫电解电容老化测试，高频低阻电解电容寿命测试等等，有很多方面的检测，以下简单分析几个检测方案。
第一：电解电容器的高温动态老化测试，在此测试过程中查看电解电容各项参数的变化与衰减和流失情况，这可就可以把不好的电解电容剔除掉。
第二:电解电容器的使用寿命测试，电解电容器的寿命测试是在电解电容老化测试的基础上，对电解电容进行高频冲电流下快速充放电测试，得到的充放电次数就是充放电寿命，但是电解电容器寿命的得出是在电解电容器长时间的老化之后得出的。同时每提升电解电容器的环境温度10度，电解电容器的寿命就会下降一半。如果想要电解电容器的寿命长，就要保证温度。
第三：耐压实验，包括额定工作电压24小时工作测试；也包括击穿耐压，即破坏性测试，电容被击穿前的那一个临界电压就是击穿电压。 第四：串联电阻测试，绝缘电阻测试。
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