压敏电阻老化失效,表现为漏电流增大,压敏电压显著下降,直至为零。
老化失效是指电阻体的低阻线性化逐步加剧,漏电流恶性增加且集中流入薄弱点,薄弱点材料融化。
形成1kΩ左右的短路孔后,电源继续推动一个较大的电流灌入短路点,形成高热而起火。
这种事故通常可以通过一个与压敏电阻串联的热熔接点来避免。
而暂态过电压破坏是指较强的暂态过电压使电阻体穿孔,导致更大的电流而高热起火。
整个过程在较短时间内发生,以至电阻体上设置的热熔接点来不及熔断。
压敏电阻的使用安全性一直是一个需要重视的问题。
因压敏电阻器广泛地应用在家用电器及其它电子产品中,压敏电阻起过电压保护、防雷、抑制浪涌电流、保护半导体元器件等作用。