压敏电阻常用作过压保护设备，但是它的通流容量虽大，但能量容量却不大。
另外它的冲击电流最大脉冲宽度远远小于大中功率半导体系统实际脉冲电流宽度，所以才会时常发生短路或爆炸
通流量最大冲击电流IP：指压敏电阻能够承受的8/20μs波的最大冲击电流峰值。
压敏电阻烧坏的原因：老化失效，表现为漏电流增大，压敏电压显著下降，直至为零；
老化失效是指电阻体的低阻线性化逐步加剧，漏电流恶性增加且集中流入薄弱点，薄弱点材料融化。
形成1kΩ左右的短路孔后，电源继续推动一个较大的电流灌入短路点，形成高热而起火。
这种事故通常可以通过一个与压敏电阻串联的热熔接点来避免。
而暂态过电压破坏是指较强的暂态过电压使电阻体穿孔，导致更大的电流而高热起火。
整个过程在较短时间内发生，以至电阻体上设置的热熔接点来不及熔断。
