压敏电阻爆裂及失效模式
本文主要介绍了压敏电阻爆裂及失效模式，本文字数约930字，阅读完全文需9分钟。
压敏爆裂可能的原因主要如下：
1、选用的允许电压或尺寸规格过低，压敏电阻过电压损坏；
2、电路中浪涌过大，或浪涌比较频繁，压敏电阻在多次浪涌冲击下疲劳损坏爆裂；
3、压敏电阻有缺陷，假冒伪劣产品，产品本身有品质缺陷。
压敏电阻的失效模式
第一种劣化，表现在漏电流增大，压敏电压显著下降，直至为零。
第二种炸裂，若过电压引起的浪涌能量太大，超过了选的压敏电阻器极限的承受能力，则压敏电阻器在抑制过电压时将会发生陶瓷炸裂现象。
第三种穿孔，若过电压峰值特别高，导致压敏电阻器的失效模式绝大部分表现为劣化各穿孔（短路），解决的办法为在使用压敏电阻器时，与之串联一个合适的断路器或者保险丝，避免短路引起事故。
