本文主要介绍了陶瓷电容的失效因素,本文字数570字,阅读全文需6分钟。
陶瓷电容的失效因素
多层陶瓷电容器本身的内在可靠性十分优良,可以长时间稳定使用,但如果器件本身存在缺陷或在组装过程中引入缺陷,则会对其可靠性产生严重影响。
内在因素主要有:分层,机械应力裂纹,多层陶瓷电容器的烧结为多层材料堆叠共烧,烧结温度可以高达1千度以上。
层间结合力不强,烧结过程中内部污染物挥发,烧结工艺控制不当都可能导致分层的发生,分层和空洞、裂纹的危害相仿,为重要的多层陶瓷电容器内在缺陷。
导致空洞产生的主要因素为陶瓷粉料内的有机或无机污染,烧结过程控制不当等。
空洞的产生极易导致漏电,而漏电又导致器件内部局部发热,进一步降低陶瓷介质的绝缘性能从而导致漏电增加。
该过程循环发生,不断恶化,严重时导致多层陶瓷电容器开裂、爆炸,甚至燃烧等严重后果。
外部因素主要为:机械应力裂纹,多层陶瓷电容器的特点是能够承受较大的压应力。
但抵抗弯曲能力比较差。器件组装过程中任何可能产生弯曲变形的操作都可能导致器件开裂。