陶瓷电容的失效模式失效机理

本文主要介绍了陶瓷电容的失效模式失效机理，本文字数780字，阅读全文需8分钟。

一、陶瓷电容的失效模式及失效机理

1、电容常见的失效模式有：短路、开路、参数（包括电容量、损耗、漏电流等）飘移等。

2、电容常见的失效机理包括：来料本身的缺陷、外加电压过高、电压瞬态变化、浪涌电流、功率耗散过大、热应力、机械应力、污染等。

二、陶瓷电容的失效机理

多层陶瓷电容本身的可靠性较高，可以长时间稳定使用。但如果器件本身存在缺陷或在组装过程引入缺陷，则会对其可靠性产生严重的影响。陶瓷电容常见的失效机理主要有以下几种：

1、来料本身的缺陷

a）陶瓷介质内空洞

介质内的空洞容易导致漏电，介电强度降低。漏电容易导致电容内局部过热，由于热电的正反馈，进一步降低陶瓷介质的绝缘性能，导致电容该位置的漏电增加。该过程循环发生，不断恶化，轻则导致电容的参数飘移（绝缘电阻减小、损耗增大等），重则导致电容介质击穿，从而使电容两端电流过大，可能产生爆炸甚至燃烧等过热烧毁的严重后果。

b）分层