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电容器失效模式与机理

2021年08月19日16:34 

电子部件的主要故障模式包括开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能故障、电参数漂移、非稳定故障等。例如,一个半导体部件外观完整,但实际上半故障或全故障需要很多时间来调整硬件电路,有时甚至爆炸机。今天主要说的是电容、电阻和电感。电容过电压失效的防范,电容器在过压状态下容易被击穿,而实际应用中的瞬时高电压是经常出现的。选择承受瞬时过电压性能好的电容器,找原厂制造安全可靠。


电子部件的主要故障模式包括开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能故障、电参数漂移、非稳定故障等。对于硬件工程师来说,电子部件的故障非常麻烦。例如,一个半导体部件外观完整,但实际上半故障或全故障需要很多时间来调整硬件电路,有时甚至爆炸机。今天主要说的是电容、电阻和电感。
电容器的常见故障模式是破坏短路致命故障开路致命故障电参数的变化(包括电容量差、损失角的正切值增大、绝缘性能下降或漏电流上升等)部分功能故障泄漏的部分功能故障导线腐蚀或断裂的致命故障绝缘子破裂的致命故障绝缘子表面的飞弧部分功能故障,电容器故障的原因多种多样。各种电容器的材料、结构、制造技术、性能和使用环境不同,故障机理也不同。
电容器破坏的主要故障机理①介质材料有缺陷或缺陷,或含有导电杂质或导电粒子②介质的电老化和热老化③介质内部的电化学反应④银离子转移⑤介质在电容器制造过程中受到机械损伤⑥介质分子结构发生变化⑦在高湿度或低气压环境下极度飞弧⑧机械应力下介质瞬时短路。
电容过电压失效的防范,电容器在过压状态下容易被击穿,而实际应用中的瞬时高电压是经常出现的。选择承受瞬时过电压性能好的电容器,找原厂制造安全可靠。

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