如果测试仪非常小心，那么可以采用类似于mil-std-461的测试装置来检测共模扼流圈的饱和特性。然而，使用内模探 头的隐患在于内模探 头的电流衰减功能。即使达到衰减值，测量的差模分量也可能超过预期的共模分量值。其次，在每个10μf电容器和电源总线之间连接一根导线。为了快速方便地介绍共模扼流圈的功能，可以考虑以下讨论：“共模扼流圈铁芯两侧的磁场相互抵消，虽然本文对共模扼流圈效应进行了直观的描述，但本质上并非如此。

如果测试仪非常小心，那么可以采用类似于mil-std-461的测试装置来检测共模扼流圈的饱和特性。该原理的应用是：测试中使用两个电流探针，低频探针监测线电流，高频探针只测量共模发射电流。采用线电流监测器作为触发源。然而，使用内模探 头的隐患在于内模探 头的电流衰减功能。如果仔细布置绕组布局，可获得约30dB的差模电流衰减。即使达到衰减值，测量的差模分量也可能超过预期的共模分量值。这个问题可以通过以下两种技术来解决：一是用示波器串联一个6KHz的高阶高通滤波器（注意匹配终端阻抗50）。其次，在每个10μf电容器和电源总线之间连接一根导线。为了测量共模辐射，电流探针应该夹在这些承载小线电流的导线附近。

为了快速方便地介绍共模扼流圈的功能，可以考虑以下讨论：“共模扼流圈铁芯两侧的磁场相互抵消，虽然本文对共模扼流圈效应进行了直观的描述，但本质上并非如此。

参照以下关于麦克斯韦方程的讨论：

*假设电流密度j产生磁场H，可以得出结论，附近的另一个电流不会抵消或阻止磁场或其产生的电场。

*类似地，相邻的电流会导致磁场路径发生变化。

*在环形共模电感的特殊情况下，可以假定每根引线中的差模电流密度相等且方向相反。因此，产生的磁场在环形磁芯的外 围必 须为0，而在外部不能为0！

摘自：http://www.sznse.com/Article/ydlylclgmel.html