多层片状陶介电容器具体不良可分为哪些
多层片状陶介电容器由陶瓷介质、端电极、金属电极三种材料构成,失效形式为金属电极和陶介之间层错,电气表现为受外力(如轻轻弯曲板子或用烙铁头碰一下)和温度冲击(如烙铁焊接)时电容时好时坏。
多层片状陶介电容器具体不良可分为:
1、热击失效
2、扭曲破裂失效
3、原材失效三个大类
2、热击失效模式:
热击失效的原理是:在制造多层陶瓷电容时,使用各种兼容材料会导致内部出现张力的不同热膨胀系数及导热率。当温度转变率过大时就容易出现因热击而破裂的现象,这种破裂往往从结构最弱及机械结构集中时发生,一般是在接近外露端接和中央陶瓷端接的界面处、产生最大机械张力的地方(一般在晶体最坚硬的四角),而热击则可能造成多种现象:
第一种形如指甲狀或U-形的裂縫和第二种隐藏在内的微小裂缝,两者的区别只是后者所受的张力较小,而引致的裂缝也较轻微。第一种引起的破裂明显,一般可以测出,第二种只有在发展到一定程度后才可测。
2、扭曲破裂失效
此种不良的可能性很多:按大类及表现可以分为两种:
第一种情况、SMT阶段导致的破裂失效
当进行零件的取放尤其是SMT阶段零件取放时,取放的定中爪因为磨损、对位不准确,倾斜等造成的。由定中爪集中起来的压力,会造成很大的压力或切断率,继而形成破裂点。
这些破裂现象一般为可见的表面裂缝,或2至3个电极间的内部破裂;表面破裂一般会沿着最强的压力线及陶瓷位移的方向。
第二种、SMT之后生产阶段导致的破裂失效
电路板切割﹑测试﹑背面组件和连接器安装﹑及最后组装时,若焊锡组件受到扭曲或在焊锡过程后把电路板拉直,都有可能造成‘扭曲破裂’这类的损坏。
在机械力作用下板材弯曲变形时,陶瓷的活动范围受端位及焊点限制,破裂就会在陶瓷的端接界面处形成,这种破裂会从形成的位置开始,从45°角向端接蔓延开来。
3、材料失效
多层陶瓷电容器通常具有2大类类足以损害产品可靠性的基本可见内部缺陷:
电极间失效及结合线破裂燃烧破裂。
这些缺陷都会造成电流过量,因而损害到组件的可靠性,详细说明如下:
1、电极间失效及结合线破裂主要由陶瓷的高空隙,或电介质层与相对电极间存在的空隙引起,使电极间是电介质层裂开,成为潜伏性的漏电危机;
2、燃烧破裂的特性与电极垂直,且一般源自电极边缘或终端。假如显示出破裂是垂直的话,则它们应是由燃烧所引起。
推荐产品
- 贴片磁珠
贴片磁珠在同样的尺寸下比插件磁珠可产生较高的阻抗值,多数应用于数据传输线、信号线、电源部分及回路的抗干扰!
- 贴片电容-直流中高压片容
中高压多层片状陶瓷电容器通过采用特殊设计制作出来的一种具有良好耐压,高可靠性的产品,该产品适用于表面贴装,适用于多种直流高压线路,可以有效的改善电子线路的性能。
- 绕线型功率电感
绕线型片式铁氧体电感体积小,适合高密度表面贴装;采用端电极结构,很好的抑制了引线产生的寄生元件效应,具有高可靠性的特点
- 片式三端陶瓷电容器
片式三端陶瓷电容器具有优良的通流特性,无极性,适合高密度的表面安装,还有良好的吸收噪音、抑制浪涌脉冲的作用。
- 铝电解电容
插件铝电解电容器拥有体积小 、寿命长(2000~8000h),高性能、宽温 (85℃或105℃)等特点,可用于高稳定电路。
- 防硫化电阻
抗硫化厚膜片式固定电阻器体积小,重量轻,适应再流焊及波峰焊,具有优越的抗硫化性能,产品全面符合ROHS指令及无卤素要求
同类文章排行
- 多层片状陶介电容器具体不良可分为哪些
- 电解液导致电解电容失效的直接原因
- 陶瓷电容失效的七大原因
- 功率电感啸叫噪声被放大的诸多原因是
- DC-DC转换器中的功率电感及其振动原因
- 功率电感啸叫的4大原因
- 压敏电阻失效的原因是,从而失去保护作用
- 焊接时机器参数设置错误会引起电容裂纹嘛?
- MLCC产生裂纹的原因,怎样检测
- 压敏电阻的失效现象
最新资讯文章
- 多层片状陶介电容器具体不良可分为哪些
- 常用的电解电容封装类型
- 电解电容的命名以及其封装含义
- 电解液导致电解电容失效的直接原因
- 陶瓷电容失效的七大原因
- 陶瓷电容失效3种模式
- 独石电容的4大作用是
- 独石电容的特点,独石电容的定义
- 功率电感啸叫噪声被放大的诸多原因是
- DC-DC转换器中的功率电感及其振动原因